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硅碳棒元件损坏原因分析

时间:2020-10-12 13:59来源:本站 作者:admin 点击:
硅碳棒元件损坏原因分析。 元件质量不合格。 ①电阻值较低(1.7欧姆)和电阻值不一致,熔铝的硅碳棒要求选用电阻值为2.2〜2.6欧姆。②元件包装不符合悬挂式的规定,因此用汽车长

       硅碳棒元件损坏原因分析。

       元件质量不合格。
       ①电阻值较低(1.7欧姆)和电阻值不一致,熔铝的硅碳棒要求选用电阻值为2.2〜2.6欧姆。②元件包装不符合悬挂式的规定,因此用汽车长途运输中有的元件产生裂纹,用肉眼不易察觉。③元件在受潮情况下使用,这在电阻炉熔化铝的作业中是不允许的。
       元件使用不合理。
       ①毎相元件电陌值应匹配一致,未安装调压变压器时更应如此,这是避免元件损坏的主要措施,而有的厂家未做到这一点。②元件冷端未包铝和预热。③电工、熔炼工不太了解正确使用元件的措施。
       元件存在微裂纹。
       ①用光学显微镜和电子显微镜对室温硅碳棒的断口进行观察,发现在Si和SiC大晶粒处裂开,并在Si晶粒中有裂纹分支,元件断裂表面发生解理和晶间混合型破坏。②对高温下断口观察,发现在超过1200摄氏度时,元件中有缓慢的裂纹扩展,它先于快速破坏;或在快速开裂区域有穿晶断裂或完全晶间断裂。总的趋势是随温度升高,品间断裂总量增加。
       一般地说,硅碳捽易断裂的主要原因是;①元件发生脆性断裂一一在运输中包装不完善,在贮存、搬运中不慎,在炉中更换元件时操作不当,这些都从引起脆性断裂。再结晶元件断裂通常是从表面裂纹开始,实质上是亚临界裂纹扩展,使缺陷在加载时长大。②元件发生延迟断裂一一在向炉中投铝锭时,铝液飞溅到元件表面上,造成元件缺陷,元件电阻值每相(区)匹配不一致,元件连接板未全部接触或连接过紧,这些都使其沿晶间和穿晶延迟断裂。再结品元件超过1200摄氏度时,缓慢裂纹扩展先于快速破坏,断裂表面氧化,晶间断裂总量增加。
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